调研显示，2024年全球半导体老化测试系统市场规模大约为8.01亿美元浙江配资门户网，预计2031年将达到12.76亿美元，2025-2031期间年复合增长率（CAGR）为7.1%。未来几年，本行业具有很大不确定性，本文的2025-2031年的预测数据是基于过去几年的历史发展、行业专家观点、以及本文分析师观点，综合给出的预测。
半导体老化测试系统（Burn-In Test System for Semiconductor）是一种专用设备，用于测试半导体器件在较长时间内的可靠性和耐用性。它通过安排试验，使半导体组件在特定的测试条件下进行老化测试，并分析其负载能力和性能变化。这种测试有助于确保系统中使用的半导体组件的可靠性。
通过半导体老化测试系统，可以加速潜在缺陷的出现，从而在将半导体器件集成到产品或系统之前拣选出不可靠的组件。除了半导体器件，半导体老化测试系统还可以应用于其他组件如PCB、IC和处理器的老化测试。在这些测试中，组件会在提高的温度、电压和功率循环条件下进行测试，以加速潜在缺陷的出现。
半导体老化测试是降低早期故障率的一种方法。半导体中的潜在缺陷可以通过老化测试来检测。当器件施加的电压应力和加热并开始运行时，潜在缺陷变得突出。大多数早期故障是由于使用有缺陷的制造材料和生产阶段遇到的错误而造成的。通过进行老化测试，只有早期故障率低的组件才能投放市场。
展开剩余67%半导体老化测试系统是确保半导体器件在长期使用中的可靠性和性能的关键设备。随着半导体行业的快速发展，尤其是在智能手机、物联网（IoT）、人工智能（AI）、5G通信等领域的应用普及，半导体老化测试系统行业也在不断发展和演变。
市场调研报告-主要企业、市场规模、份额及发展趋势
报告研究“十四五”期间全球及中国市场半导体老化测试系统的供给和需求情况，以及“十五五”期间行业发展预测。
主要企业名单如下，也可根据要求增加目标企业：
DI Corporation
爱德万
Micro Control Company
STK Technology
KES Systems
ESPEC
Aehr Test Systems
浙江杭可仪器
思达科技(Innotech)
致茂电子
EDA Industries
长川科技
Trio-Tech International
武汉驿天诺科技
精测电子
深圳金凯博
武汉普赛斯电子
Electron Test Equipment
广州赛睿检测设备
惠特科技
产品类型
静态测试
动态测试
应用
集成电路
分立器件
传感器
光电子器件
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